误码测试分析仪是是指由
码型发生器将编码信号送至输出接口电路,完成信号合路、阻抗匹配,形成符合标准的HDB3信号送到被测设备;经由设备内或设备外环回后,信号由输入接口电路接收,并在误29课程SS0515Issue2.0SBS设备测试码仪内部完成信号分离、时钟提取;最后由误码检测器对信号进行分析检测,将结果在仪表的
液晶显示器上显示出来的
仪器。
主要参数
码发生器输出:符合CCITTG.703建议的样板要求
比特率:2048kb/s±50ppm、8448kb/s±30ppm、34368kb/s±
线路码型:HDB3输出阻抗:759(不平衡)
输入阻抗:759(不平衡)
码型图案:215-1、223-1伪随机码、16bit人工码、AIS码、1000码
插入误码:单比特插入,以10-3、10-4或10-6误码率周期插入
输入允许衰减:2048kb/s、8448kb/s、0~6dB、34368kb/s
外接电源:DC15V
充电时间:10小时
电池使用时间:2Mb/s:4.5小时、8Mb/s:3.5小时、34Mb/s:2.5小时
工作环境温度:5~40℃
体积L×W×H=24.5×10.5×5.5厘米
重量:约0.9公斤(含电池)
测试项目
误码数和误码率(BE/BER)的测量
瞬时BE/BER(Cur):表示即逝的一秒内的BE/BER。
累积BE/BER(Acc):表示自开始测量以来BE/BER。
最大BE/BER(Max):表示自开始测量以来最大一次的BE/BER。
误码结果分析
误码秒(ES):在可用时间内的某一秒发生误码,这一秒就称为误码秒,以百分比表示。
严重误码秒(SES):在可用时间内的某一秒发生的误码率大于10-3,这一秒就称为严重误码秒,以百分比表示。
劣化分(DGM):在可用时间内的某一分钟发生的误码率大于10-6,这一分钟就称为劣化分,以百分比表示。
不可用时间(UAT):整个测量时间分为可用时间和不可用时间,在可用时间内,当连续10秒钟BER大于10-3,即进入不可用时间;在不可用时间内,当连续10秒钟BER小于10-3,即进入可用时间。以百分比表示。
告警检测
信号中断或信号过弱(NoSignal)
失步(NoSync)
误码(BitError)
应用
误码测试分析仪具有体积小、重量轻、作用强、操作简便等特点。可用于
数字传输系统、光纤通信系统、数字微波系统的ASYNC、SYNC、BSC、SDLC/HDLC等通信协议的故障分析以及IrDA(MIR)、CAN等新的通信协议的开发,误码检测和告警监测。特别适用于数字传输系统的安装、开通和维护工作,是科研人员和工程技术人员极好的工具。