综合测量系统
分析仪器
综合测量系统是一种用于物理学领域的分析仪器,于2009年5月4日启用。
技术指标
配备有He3制冷机,温度范围为0.4K-400K,磁场范围为-140000Oe至+140000Oe,1 T以内的磁场分辨率为 0.02 mT,控温模式为连续低温控制和温度扫描模式温度稳定性 ±0.2% T < 10K;±0.02% T > 10K。
主要功能
可以提供极低温高精度的电学测量,包括基系统和He3制冷机的直流电输运选件(DC Resistivity);高精度、高度自动化、极低温的比热测量(Heat Capacity);高灵敏度的热输运测量(TTO), 独特的设计使得PPMS配合该选件, 能够进行以下参数的测量:AC电输运、热导率、塞贝克系数、品质因子等测量。
参考资料
综合测量系统.国家科技基础条件平台中心.
最新修订时间:2021-01-04 11:21
目录
概述
技术指标
主要功能
参考资料