纳米激光粒度仪
仪器设备
纳米激光粒度仪‌是一种用于测量纳米颗粒粒度的设备,主要应用于科学研究、材料开发、质量控制等领域。
基本信息
型号:Winner801型
应用范围:化工、电子、电池材料、造纸、冶金、陶瓷、建材、化妆品、磨料、医药、涂料、食品、农药、金属与非金属粉末、碳酸钙、钛白粉、氧化铝、稀土、颜料、等各种行业粉料、乳液料的粒度分布测试。
技术参数
主要技术参数
规格型号 Winner801
执行标准 GB/T19627-2005 / ISO13321:1996
测试范围 1-5000nm(与样品有关)
准确度误差
重复性误差
激光 λ= 532nm,LD泵浦激光器
探测器 光电倍增管(PMT)
散射角 90o
样品池 10mm×10mm , 4mL
测试温度 10-35 ℃
测试速度
数字相关器主要参数: 规格型号 CR140
自相关通道 140
基线通道 4
延迟时间 400ns-10ms 可调
最小分辨时间 8ns
运算速度 125M/s
无溢出时间 >1h
分析软件
在Windows98/2000/XP系统下运行,操作界面友好,菜单提示完整,测试报告数据齐全,结果有积分、 微分分布、平均粒径和比表面积等数据,中、英文版本软件供选择使用。
优势介绍
高灵敏度与信噪比:本仪器的探测器采用专业级高性能光电倍增管(PMT),对光子信号具有极高的灵敏度和信噪比,从而保证了测试结果的准确度;
极高的分辨能力:使用PCS技术测定纳米级颗粒大小,必须能够分辨纳秒级信号起伏。本仪器的核心部件采用微纳公司研制的CR140数字相关器,具有识别8ns的极高分辨能力和极高的信号处理速度,因此可以得到准确的测定结果。
超强的运算功能:本仪器采用自行研制的高速数字相关器CR140进行数据采集与实时相关运算,其数据处理速度高达125M,从而实时有效地反映颗粒的动态光散射信息。
稳定的光路系统:采用短波长LD泵浦激光光源和光纤技术搭建而成的光路系统,使光子相关谱探测系统不仅体积小,而且具有很强的抗干扰能力,从而保证了测试的稳定性。
测试报告:
最新修订时间:2024-10-28 22:28
目录
概述
基本信息
技术参数
参考资料