仪器名称稀有气体同位素质谱仪，主要用途常规K-Ar,Ar-Ar测年及惰性气体He等的分析。适用于地质年代测定、地质及火山事件确定，以及海水、有机物及岩体中惰性气体He等的分析。主要研究方向：构造年代学、地质事件精细定年、Ar-Ar微区分析、惰性气体分析。主要应用于科研、教学以及一定量的生产单位样品的测定。

仪器类别： 03030701 /仪器仪表 /成份分析仪器 /同位素质谱计（仪）

指标信息： 主要规格及技术指标：主机MM5400稀有气体同位素质谱计是一台静态磁偏转质谱计，包括有法拉第接收器和电子倍增器（带离子计数器）、数据处理系统和软件及相关的电控系统。样品处理系统包括电阻炉、手动净化样品处理管线。 性能指标：分辨率-5%峰高处，234（高法拉第）、679（倍增器），分析和计算方法由计算机按设计程序自动完成。静态真空水平6.37≌10-13，Ar，捕获电流为200μA，灵敏度高于1×10-3Amps/Torr。

附件信息： 循环水系统，预备购置与主机匹配的激光熔样系统。

应用范围：MM5400稀有气体同位素质谱仪适用于地质年代测定（如构造变形、火山喷发、变质作用、沉积作用、岩体冷却、山体抬升、盆地沉降），以及海水、有机物及岩体中惰性气体He等的分析。

应用对象：主要应用于地质科研、教学和生产服务。可为基础地质研究以及找矿勘探等提供精细的年代数据。

1.K-Ar和Ar-Ar年代学：与地质事件有关的常规测年及其研究；

2.构造—热年代学：研究中、新生代构造—热事件的地质问题，探讨有关山体抬升与盆地沉降等的大陆动力学；

3.矿物微区、微量年代学：利用脉冲和连续加热激光熔样系统研究与矿物形成或变质过程有关的地质问题，获得精细的地质事件年龄及环境变化制约参数；

4.开展海水、有机物及岩体中惰性气体He等的分析。

有一个多种配置供选择：

法拉第一个倍增器，

一个法拉第二个倍增器，

一个法拉第3个倍增器，

一个法拉第4个倍增器，

六个法拉第4个倍增器，

还有专门测He同位素专门测Ar同位素的两种仪器

Nier型离子源，所有离子源参数由计算机控制

不连续打拿级离子计数电子倍增器

全“干”泵技术的真空系统

平顶峰高分辨率，高效利用仪器的灵敏度

多接收器

大范围自动变焦离子镜

高效Nier离子源

叠层电磁铁

稳定可靠的电路设计

优秀的真空系统

高灵敏度