比长仪以不接触光学定位方法瞄准被测长度，主要用于测量线纹距离的精密长度测量工具。

比长仪是以不接触光学定位方法瞄准被测长度，主要用于测量线纹距离的精密长度测量工具。

比长仪一般采用测量显微镜或光电显微镜作为瞄准定位部件，并以精密线纹尺的刻度或光波波长作为已知长度，与被测长度比较而确定量值。比长仪主要用于检定线纹尺，测量分划板上的线距和物理、天文类照相底片上的光波谱线距离，也可用于测量孔径。

比长仪按结构布局分为纵向的和横向的两类。纵向比长仪采用线纹尺作为已知长度，且结构设计符合阿贝原则，称为阿贝比长仪。测量时,先用测量显微镜瞄准被测线条，从读数显微镜读得一数值。然后移动工作台，再用测量显微镜瞄准另一被测线条，从读数显微镜读得另一数值。这两个数值之差即是被测两线条间距离。

横向比长仪的被测长度和已知长度是并列布置的，这种布局可以缩短导轨长度，但要求导轨精度高。采用爱宾斯坦光学系统,可以补偿结构不符合阿贝原则而产生的测量误差。以光电显微镜代替上述两种显微镜者，称为光电比长仪；采用激光或其他单色光波长作为已知长度者，分别称为激光比长仪和光电光波比长仪。阿贝比长仪的测量精确度为±1～±1.5微米/200毫米，光电比长仪可达到±0.5微米/1000毫米，而光电光波比长仪和激光比长仪则可达到±0.2微米/1000毫米。

比长仪是由刻度盘1、千分表2、上测头3、90°V型槽支架4、下测头5、标准杆6、底座等组成。它具有使用方便、测量精度高、速度快、读数清楚等优点。为了满足用户的使用要求，支架采用V型槽式，上下测头采用平面测头，这种方法提高了测量精度和准确性，可供广大用户试验检测用。

1、 将比长仪放在工作台上，将标准杆放入比长仪上下测头球面孔内，松开上测头锁紧螺母、调整上测头与百分表使刻度盘上“0”位于百分表指针对齐后，将上测头锁紧螺母拧紧。

2、 将被测试体擦净，一端钉头放入比长仪下测头球面孔内，另一端钉头轻轻放入比长仪上测头的球面孔内。

3、 左右旋转被测体，使试体与比长仪下测头良好接触。检查比长仪上下测头球面孔内是否有砂粒等脏物。

4、 测量试体读数时，首先读表盘内小表针所指示的数值，然后再读大表针所指示的数值。

5、 比长仪是一种精密的测量仪器，在使用过程中一定要轻拿轻放，保持整洁。