《晶体结构测定》是1981年科学出版社出版图书，作者是周公度。

晶体结构的测定不仅在化学、物理学、矿物学、冶金学等领域的研究中有其重要作用，而且已和生物活动微观过程的研究相联系．近廿年来，电子学和计算数学方面的新技术和新成就使晶体结构测定的精度、速度和广度得到了进一步的发展，由它提供的结构数据已成为某些基础理论发展的实验基础和鉴定标准之一．本书主要介绍单晶的X射线衍射法的基本原理和规律、具体方法和步骤，以及测定晶体结构的各种实例，同时以专章介绍多晶衍射、电子衍射与中子衍射，每章均附有习题．本书既是掌握晶体结构测定方法的入门书，也可供研究晶体结构及其性能的科学工作者参考．

目录

第一章 X射线和晶体结构测定的一般步骤

第二章 晶体

第三章 倒易点阵和晶体的衍射方向

第四章 单晶衍射数据收集法

第五章 衍射强度

第六章 空间群的测定和应用

第七章 电子密度函数

第八章 测定晶体结构的方法

第九章 多晶衍射法

第十章 电子衍射和中子衍射

第十一章 提高测定结构的准确度

第十二章 晶体结构的表达

附录Ⅰ 备查的数据和方法

附录Ⅱ 数据处理和结构测定实例

附录Ⅲ 主要符号表