早期的X光照相和腭位照相揭示了辅音的静态发音部位和侧视图的动态口腔发音姿态，这为言语产生的生理研究奠定了基础，但这些生理设备只能对言语产生进行静态研究，无法记录发音详细的动态过程。动态腭位仪（EPG）的出现弥补了这方面缺陷，语言研究者发明了能够紧密地镶嵌在人的上牙齿边缘人工假腭，上面装置了多个电极，舌头与这些电极接触时，专用采集设备就能迅速地采集到舌与假腭的接触状况，由于人工假腭只有0.1mm左右厚，不影响正常的舌腭接触，所以EPG能动态地反映言语产生时舌腭接触的实时变化。EPG在早期主要运用于言语矫正和外语教学，近些年该设备在语音研究中的运用也日益广泛

EPG本身是一种材质极薄(小于0.5毫米)的电子假腭, 紧紧地贴合在口腔上腭的牙齿和硬腭部位。这些镶于假腭内部的电极通过导线与计算机相连,所以当舌与腭部接触时,接触部位的电路会接通,产生电流,形成信号传入电脑,电脑将信号转换为数据后,使腭图上对应的点发生变化,舌与上腭的接触位置以及接触面积的大小便在屏幕上一一对应地以图形的方式在语音声学分析软件的界面上显示出来。

口腔上腭由硬腭(palate或hard palate)和软腭(velum或soft palate)组成。硬腭与上齿交界处叫做齿龈区(alveolar)，包括第2一4点，第4、5点之间的突起部位叫做齿龈脊(alveolar ridge)。软腭的末端叫做小舌(uvula)，发口腔音时，它就往上抬接触到后面的咽腔壁，堵住鼻腔通路:相反，口腔封闭，小舌下降离开咽腔壁，鼻腔通路打开，发出的就是鼻音。舌传统上被分为舌尖(apex)、舌叶(lamina)、舌面(dorsum)和舌根(radix)。研究辅音的发音部位意思就是，发某个辅音时，我们要弄清楚是舌的哪一部分往上抬接触到上腭的哪一部分，从而形成阻塞或阻碍。l至8的8个圆点表示电子假腭8行电极以中间列为中心轴在上腭的侧面分布。第1行分布在门齿上，第2一4行分布在齿龈上，第5一7行属于硬腭区，第8行属于软腭区。我们就是通过分析舌接触到的电极位置及数量(即接触面积)来判断发音部位的。