低温探针台
可用来测试芯片、晶圆片和封装器件
低温真空探针台可用来测试芯片、晶圆片和封装器件。应用领域包括半导体、MEMS、超导、铁电子学、材料科学以及物理和光学等探针可以施加直流、低频信号,高效率连续流低温真空系统可使温度控制在8K 到475K,可施加磁场(电磁铁)。
技术指标
10~400 K温度范围,0~5000 Oe,0~360度转角控制。
主要功能
低温真空探针台可用来测试芯片、晶圆片和封装器件。应用领域包括半导体、MEMS、超导、铁电子学、材料科学以及物理和光学等探针可以施加直流、低频信号,高效率连续流低温真空系统可使温度控制在8K 到475K,可施加磁场(电磁铁)。
参考资料
低温探针台.中国科学院宁波材料技术与工程研究所.
最新修订时间:2024-03-21 14:37
目录
概述
技术指标
主要功能
参考资料