定义
词目：K波
英文：K-wave
应用
K波的典型应用:
立体测量
能提供物料表面成像图
精确提供实际料位，体积以及质量(1.6%)
抗干扰极强（抗密度低于200Kg/M3 的粉尘）
空仓扫描功能，去除仓内建筑的干扰
将料位测量和库存管理水平提高到前所未有的高度
K波雷达物位成像仪优势
立体扫描，而非常规雷达的点扫描，提供更加真实的测量数据
可3维成像，直观的显示料仓的实际状况
不受粉尘的干扰
自动变频测量，任何型号最大测量距离都可达到70米
K波雷达物位成像仪测量原理
全球领先技术--微波侧视成像孔径雷达技术
利用二维矩阵波束为传递媒介，根据各种物质的不同微波波谱特性，
对测量目标进行非接触性侦测、识别、成像
连续监测筒仓或开放式仓室内物料的物位、体积和质量等信息。
图像可在远端监控屏幕上显示出来
K波雷达物位成像仪软件功能强大
全面的回波分析功能
独特的空仓扫描功能，可去除仓内的加强梁、梯子、等障碍物对测量的干扰，使测量更准确。
仓内物料情况分析软件，可以分析仓内物料挂壁状况，提供用户安全生产建议。
物料表面成像功能，为用户提供了解物料堆积状况的直观参考。（并有过程回放功能）
独有的声波振打功能，有效地防止物料灰尘在雷达发射内壁的堆积，从而保证雷达的长期、正常的工作。
全面的仓型选择功能真实、高精度的物料体积测量
K波雷达物位成像仪的应用场合
燃煤电厂： 煤粉仓，石灰仓，煤堆等
钢铁： 各种料仓
有色金属： 各种矿石及原料仓库，研磨塔
造纸： 漂白过程，木片堆场等
化工： 物料仓，固体成品仓
水泥： 水泥粉仓、料仓
食品饮料： 谷物仓，奶粉仓，面粉仓
K波雷达物位成像仪的选型谱表
AS 、A型应用于各种物料的容积、平均物位的测量
BM 、B型应用于各种物料的容积、表面的最高点和最低物位测量，可制图
CMV 、C型应用于除以上功能外增加物料表面可视化功能
AS 、A型可通过软件升级到BM 、B型和CMV 、C型
BM 、B型可通过软件升级到CMV 、C型
K波雷达物位成像仪的认证
ATEX ATEX II 1/2D, 2D
FM FM Intrinsic safety
CSA CSA Intrinsic safety
IECB 型IEC EEx ia IIC T6
CE
EMC
EMission EN 61326: 1997 (class B)
Susceptibility EN 61326: 1997/A1: 1998
NSR（73/23/EWG） EN 61010-1: 2001